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導通電阻試驗裝置 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生, 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

J-RAS ECMr離子遷移試驗裝置，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。 離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生 , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHO

J-RAS中國總代離子遷移ECMr系列：ECMr-500（2026年發布）集成兩大經典機型優勢，支持最高500V遷移測試與16ms高速采樣。采用高邊測量方式，實現高效樣品連接。提供40/100通道機箱，電阻測量范圍2kΩ～10TΩ，電壓設定分辨率0.1V，電流測量最*達p*級精度。適用于高可靠性離子遷移分析。

J-RAS中國總代高壓離子遷移ECMr系列：ECMr-1000高壓絕緣可靠性測試儀，支持最高2kV電壓輸出，每通道可獨立設置5V～2kV。采用高邊測量與全通道同步采樣，遇漏電或短路可快速關斷。具備緊急停止、聯鎖等多重安全機制，可不依賴PC獨立測試，數據存儲于CF卡。機身小巧，單臺最大100通道，一臺PC可擴展控制400通道（支持與ECMr-500混搭），適用于高壓絕緣可靠性評估。

J-RAS 離子遷移導通電阻RTm系列中國總代理RTm-100記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。